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한양대학교 ERICA

[국제학술대회] ITC 2016 참석

김진욱 2016.12.20 16:46 조회 수 : 174

2016.11.15~2016.11.18

 

ITC 2016 (IEEE International Test Conference 2016)

 

Fort worth, TX, US

 

참석자 : 김진욱(석박4기), 김영성(석사4기)

 

 

 

1. 국제학술대회 참가목적 및 필요성

- IEEE std. P1838 (standard for 3D-IC testing) 관련 정보 습득

- IEEE std. 1687 및 P1687.1 활용 정보 습득

- Memory Testing 관련 학술정보 습득

- TSV (Through-Silicon Via) 테스트 관련 학술정보 습득

- 기타 학술정보 교류 및 인적 네트워크 확장

 

2. 국제학술대회(단기연수) 주제 및 내용

- Testing TSV-based 3D-Stacked ICs

- Testing Automotive ICs

- Yield Analysis

- Defect modeling

- Design-For-Testing

- Automotive Reliability

- IEEE std. 1687

- ATE(Automatic Test Equipment) Techniques

- Analog circuitry

- Test Cost Reduction

 

3. 국제학술대회(단기연수) 참가 시 수행내용 (학술교류 내용, 자료, 정보입수 등)

- IEEE std. P1838의 1500 호환성 및 Wrapper cell compatibility 조사

- IEEE std. 1687 활용 분야 교류

- IC Testing 관련 최신 연구분야 조사

- 해당 분야 석학과의 교류 및 세미나 참가